素子破壊テスト

定格オーバーで簡単に破壊できる素子と定格を超えてもかなり耐える物が有るので実験した物を蓄積する
素子には短絡(ショートモード)と開放(オープンモード)での破壊があるが常に同じモードで壊れるとは限らない

テストした物
 ・ダイオード 1N4148 逆耐圧


2016-03-02

1N4148の逆耐圧テスト。定格は75V。交流のままだと直列抵抗を入れることになり破壊に必要な電力が抵抗で抑えられてしまうためブリッジで全波整流した電圧をかける

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ブリッジの耐圧は600V。写真の通りの簡単なテスト回路なので回路図は省略

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破壊電圧:約110V。全波整流波形なのでピーク電圧は約155V
破壊モード:ショートモード。ブリッジが破壊された事による推測
・よく見るとガラスが割れている。拡大撮影しないと解らない
・ショートモードで破壊したのでブリッジも飛んでしまった。ブリッジもショートモードで破壊。15A東電リミッターが動作。
 2秒間隔でサンプリングしている電力計には過電流が捕らえられていないため短時間でブリッジまで破壊されたと推測される
・ブレッドボードから外してダイオード両端の端子抵抗を計測するとオープンになっている。破壊後冷えてオープンになったのか?オープンモードで破壊したのであればブリッジは無事なはず

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